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專注環(huán)境試驗設(shè)備的研發(fā)與生產(chǎn)
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多模式的降階積分法 多模式的降階積分法 降階積分法同樣能夠求解結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效概率，設(shè)系統(tǒng)由 個失效模式組成，對結(jié)構(gòu)系統(tǒng)按照單模式的情形將坐標空間離散為眾多微元體，與單模式不同的是每個微元體與結(jié)構(gòu)系統(tǒng)的失效域的交點處的特征半徑（仍以 表示之）需按下面的方法確定。
可靠性試驗分析的降階積分法 可靠性試驗分析的降階積分法 由于非正態(tài)相關(guān)隨機變量可以轉(zhuǎn)化為正態(tài)獨立隨機變量，本章仍主要討論相互獨立的正態(tài)隨機變量情況的結(jié)構(gòu)的可靠性試驗靈敏度分析。 假設(shè)所研究問題包含的 維基本變量 相互獨立且均服從正態(tài)分布， ， 和 分別為 的均值與標準差。以
可靠性試驗靈敏度分析的降階積分法 可靠性試驗靈敏度分析的降階積分法 降階積分法是一種從概念上就十分精確的解析積分方法，它對隨機變量的維數(shù)以及極限狀態(tài)方程的非線性程度沒有限制和要求，只要隨機變量為連續(xù)型變量、極限狀態(tài)函數(shù)有顯式表達的可靠性試驗問題均可以求解 [1] 。 降階積分法首
相關(guān)正態(tài)變量情況下可靠性試驗靈敏度分析的 相關(guān)正態(tài)變量情況下可靠性試驗靈敏度分析的基于超球重要抽樣的直接法 對于含相關(guān)正態(tài)變量的可靠性試驗靈敏度分析問題，可將 4.2 節(jié)的直接法與 4.3.1 節(jié)的超球重要抽樣或 4.3.2 節(jié)的自適應超球重要抽樣相結(jié)合來提高可靠性試驗靈敏度分析直接法的計算效率，具
基于超球重要抽樣的相關(guān)正態(tài)變量情況下的 基于超球重要抽樣的相關(guān)正態(tài)變量情況下的可靠性試驗靈敏度分析 上述兩種基于 MonteCarlo 數(shù)字模擬法的可靠性試驗靈敏度分析方法的顯著缺點是效率太低，由于絕大部分情況下引入的密度函數(shù)的密度中心處于遠離失效域的安全域內(nèi)，因此大多數(shù)樣本點均落在安全域內(nèi)
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